Характеристики

ISBN/ISSN 978-5-9765-0207-9
Год издания 2007
Автор Батаев А.А., Батаев В.А., Алхимов А.П.
Вид издания уп
Кафедра ММ
Гриф УМО
Типография НГТУ
Факультет МТФ
240 руб.

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей.
Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройства приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.
Издание подготовлено совместно с издательством Москва ФЛИНТА-НАУКА.

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. 
Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройства приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.
Издание подготовлено совместно с издательством Москва ФЛИНТА-НАУКА.

СОДЕРЖАНИЕ

ВВЕДЕНИЕ
Библиографический список

Глава 1. ДЕФЕКТЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКОГО СТРОЕНИЯ
МЕТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ
Библиографический список

Глава 2. ОПТИЧЕСКАЯ МЕТАЛЛОГРАФИЯ
2.1. Разрешающая способность и увеличение
металлографического микроскопа
2.2. Дефекты изображения при работе на
металлографическом микроскопе
2.3. Объективы и окуляры для
металлографических микроскопов
2.4. Основные методы микроскопического
исследования
2.5. Основные типы металлографических
микроскопов
Библиографический список

Глава 3. ТРАНСМИССИОННАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ
МИКРОСКОПИЯ
3.1. Взаимодействие электронов с веществом
3.2. Устройство микроскопа
3.3. Увеличение и разрешение просвечивающих
электронных микроскопов
3.4. Контраст и формирование изображения
3.5. Рассеяние электронов веществом.
Образование дифракционной картины в
электронном микроскопе
Библиографический список

Глава 4. РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ

Данные подготавливаются.

Вернуться к списку